这是因为大量散射光线在空间损失掉了，击中探测器上的只占了很小一部分。为了提高结果的平滑度，我们只需追迹感兴趣的区域，忽略掉其它散射光线，这时需要用重点采样功能。

 打开散射矩形片特性对话框，设置重点采样：

 我们通过设置重点采样的目标方向和目标尺寸，就可实现特定区域的光线追迹：

 上面视图显示了重点采样后的光线输出，查看探测结果如下：

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